簡(jiǎn)要描述：透反射金相顯微鏡、金屬檢測(cè)顯微鏡、焊錫檢測(cè)顯微鏡、光刻板檢測(cè)、電極檢測(cè)，半導(dǎo)體硅片檢測(cè)，材料科學(xué)，地質(zhì)礦物質(zhì) 精密工程JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
產(chǎn)品型號(hào)：JX-BH200M/JX-BH200MS更新時(shí)間：2024-06-24產(chǎn)品資料：JX-BH200M系列正置金相顯微鏡
JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
■采用平場(chǎng)消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時(shí)在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計(jì)防反射結(jié)構(gòu)，有效防止反射光干擾成像光線(xiàn)，從而使成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好。
■提供穩(wěn)定可靠的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡(jiǎn)便。
■顯微鏡鏡體采用全新的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)勻稱(chēng)，實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化。
■工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作，提高了使用的舒適性。
■廣泛應(yīng)用于各類(lèi)半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。
技術(shù)規(guī)格
標(biāo)有“（選配）"為選配，其他為標(biāo)配！
光學(xué)系統(tǒng) | 有限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) |
觀(guān)察筒 | 鉸鏈?zhǔn)诫p目，30°傾斜，360°旋轉(zhuǎn)，瞳距調(diào)節(jié)范圍：54-75mm，雙邊±5屈光度可調(diào)； 鉸鏈?zhǔn)饺?，固定式分光比，雙目:三目=80%:20% |
目鏡 | PL10X高眼點(diǎn)平場(chǎng)目鏡，線(xiàn)視場(chǎng) 18mm |
物鏡 | 長(zhǎng)工作距平場(chǎng)消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X、100X |
轉(zhuǎn)換器 | 內(nèi)定位四孔轉(zhuǎn)換器 內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器（選配） |
調(diào)焦機(jī)構(gòu) | 粗微調(diào)同軸，帶機(jī)械上限位和松緊調(diào)節(jié)裝置, 粗調(diào)行程28mm，微調(diào)精度0.002mm |
載物臺(tái) | 雙層機(jī)械移動(dòng)平臺(tái),附設(shè)180X145mm平板平臺(tái), 移動(dòng)范圍：76mmX50mm |
照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明，自適應(yīng)寬電壓90V-24V，6V/30W鹵素?zé)?，光?qiáng)連續(xù)可調(diào),帶可變孔徑光闌與視場(chǎng)光闌,視場(chǎng)光闌中心可調(diào) |
攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 | 0.35X/0.5X/1.0X C型攝像接筒 |
其他可選功能 | 簡(jiǎn)易偏光 6V30W透射照明系統(tǒng) |
JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
